Proceedings of the Second International Symposium on Test Automation & Instrumentation Beijing, China, November 17 - 21, 2008 Vol. 1
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Format: | UnknownFormat |
Sprache: | eng |
Veröffentlicht: |
Beijing
International Academic Publishers
2008
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Beschreibung: | 59, 60, 590 S. Ill., graph. Darst. |