Proceedings of the Second International Symposium on Test Automation & Instrumentation : Beijing, China, November 17 - 21, 2008

Proceedings of the Second International Symposium on Test Automation & Instrumentation Beijing, China, November 17 - 21, 2008

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Zhongguo yi qi yi biao xue hui (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Zhang, Zhonghua (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Beijing International Academic Publishers 2008
Schlagworte:
Konferenzschrift > Fertigungsmesstechnik
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Beschreibung
ISBN:9787506292207
978-7-5062-9220-7