Special issue: Scanning probe microscopy [16th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy (ICSPM16) was held in Atagawa Heights, Higashi-izu, Japan, from December 11 through 13, 2008]
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Körperschaft: | |
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Weitere Verfasser: | |
Format: | UnknownFormat |
Sprache: | eng |
Veröffentlicht: |
Tokyo
Japan Society of Applied Physics
2009
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Schriftenreihe: | Japanese journal of applied physics
48.2009,8,3 |
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Beschreibung: | Getr. Zählung Ill., graph. Darst. |
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