Proceedings / IEEE International Workshop on Design and Test of Nano Devices, Circuits and Systems : 29 - 30 September 2008, Cambridge, Massachusetts ; [held ... in conjunction with the IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems]

Proceedings / IEEE International Workshop on Design and Test of Nano Devices, Circuits and Systems 29 - 30 September 2008, Cambridge, Massachusetts ; [held ... in conjunction with the IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems]

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: IEEE Computer Society (BerichterstatterIn), IEEE Computer Society Test Technology Technical Council (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Piscataway, NJ IEEE 2008
Schlagworte:
Konferenzschrift
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Beschreibung:Parallel als Online-Ausg. erschienen
Auch zitiert als: NDCS 2008
Beschreibung:X, 85 S.
Ill., graph. Darst.
ISBN:9780769533797
978-0-7695-3379-7