Silicon nitride surface passivation

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Myers, T. R. (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Chicago, Ill. IIT Research Inst. 1969
Schriftenreihe:Technical monograph / Reliability Analysis Center 69,2
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Beschreibung
Beschreibung:III, 36 Bl.
Ill.