Screening of integrated circuits

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Myers, T. R. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Chicago, Ill. IIT Research Inst. 1969
Schriftenreihe:	Technical monograph / Reliability Analysis Center 69,1
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Beschreibung
Beschreibung:	III, 48 Bl.