An adaptive heuristic algorithm for VLSI test vectors selection

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	European journal of operational research
Weitere Verfasser:	Ibrahim, Walid (BerichterstatterIn), El-Sayed, Hesham (BerichterstatterIn), El-Chouemie, Amr (BerichterstatterIn), Amer, Hoda (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2009
Schlagworte:	Aufsatz in Zeitschrift
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Beschreibung
ISSN:	0377-2217