New horizons of applied scanning electron microscopy

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Shimizu, Kenichi (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Mitani, Tomoaki (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Berlin, Heidelberg u.a. Springer 2010
Schriftenreihe:	Springer series in surface sciences 45
Schlagworte:	Scanning electron microscopy > Technique > Rasterelektronenmikroskopie > Feldemissionsmikroskopie > Probenvorbereitung > Hochfrequenzsputtern
Online Zugang:	Einführung/Vorwort Kapitel 1 Inhaltsverzeichnis
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