New horizons of applied scanning electron microscopy

New horizons of applied scanning electron microscopy

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Shimizu, Kenichi (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Mitani, Tomoaki (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Berlin, Heidelberg u.a. Springer 2010
Schriftenreihe:Springer series in surface sciences 45
Schlagworte:
Scanning electron microscopy > Technique > Rasterelektronenmikroskopie > Feldemissionsmikroskopie > Probenvorbereitung > Hochfrequenzsputtern
Online Zugang:Einführung/Vorwort
Kapitel 1
Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Beschreibung:XIV, 179 S.
Ill., graph. Darst.
235 mm x 155 mm
ISBN:3642031595
3-642-03159-5
9783642031595
978-3-642-03159-5
9783642261688
978-3-642-26168-8