Mixed-technology testing [... three papers ... extended versions of the preliminary work presented at the 12th IEEE International Mixed-Signals Testing Workshop, held in Edinburgh, United Kingdom, 21 - 23 June 2006]
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Format: | UnknownFormat |
Sprache: | eng |
Veröffentlicht: |
Amsterdam u.a.
Elsevier
2009
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Schriftenreihe: | Microelectronics journal Special issue
40.2009,7 |
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