Mixed-technology testing [... three papers ... extended versions of the preliminary work presented at the 12th IEEE International Mixed-Signals Testing Workshop, held in Edinburgh, United Kingdom, 21 - 23 June 2006]

Bibliographische Detailangaben

Körperschaft:	Institute of Electrical and Electronics Engineers (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Lubaszewski, Marcelo (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Amsterdam u.a. Elsevier 2009
Schriftenreihe:	Microelectronics journal Special issue 40.2009,7
Schlagworte:	Konferenzschrift
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!