Electromagnetic immunity of microcontrollers failure mechanisms and modelling

Zugl.: Erlangen-Nürnberg, Univ., Diss., 2009

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Su, Tao (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Tönning u.a. Der Andere Verl. 2009
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Beschreibung
Zusammenfassung:Zugl.: Erlangen-Nürnberg, Univ., Diss., 2009
Beschreibung:IV, 176 S.
Ill., graph. Darst.
21 cm
ISBN:9783899599008
978-3-89959-900-8