2008 IEEE International Reliability Physics Symposium proceedings 46th annual; Phoenix, Arizona, April 27 - May 1, 2008 [1]

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: IEEE Electron Devices Society (BerichterstatterIn), IEEE Reliability Society (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Piscataway, NJ IEEE 2008
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Beschreibung
Beschreibung:XVI, 398 S.