Determination of the 2DEG density of an AlGaN/GaN HEMT by electroreflectance spectroscopy

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	69. Jahrestagung der Deutschen Physikalischen Gesellschaft (DPG) e. V. ; 2: Arbeitskreis Festkörperphysik, chemische Physik und Polymerphysik, dielektrische Physik, dünne Schichten, Dynamik und statische Physik, Halbleiterphysik, Magnetismus, Metallphysik, Oberflächenphysik, tiefe Temperaturen, Vakuumphysik und Vakuumtechnik, Arbeitskreise biologische Physik, Physik sozioökonomischer Systeme, Symposien
Weitere Verfasser:	Winzer, Andreas T. (BerichterstatterIn), Goldhahn, Rüdiger (BerichterstatterIn), Gobsch, Gerhard (BerichterstatterIn), Link, Angela (BerichterstatterIn), Eickhoff, Martin (BerichterstatterIn), Rossow, Uwe (BerichterstatterIn), Fuhrmann, Daniel (BerichterstatterIn), Hangleiter, Andreas (BerichterstatterIn)
Pages:	69
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2005
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