Novel algorithms for fast statistical analysis of scaled circuits

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Singhee, Amith (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Rutenbar, Rob A. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Dordrecht u.a. Springer 2009
Schriftenreihe:	Lecture notes in electrical engineering 46
Schlagworte:	Nanoelectronics > Statistical methods > Integrated circuits > Computer-aided design > Algorithms
Online Zugang:	Inhaltstext
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Beschreibung
Beschreibung:	XV, 195 S. 235 mm x 155 mm
ISBN:	9789048130993 978-90-481-3099-3