Complex semiconductors operating at low temperatures : comparative life test evaluation of three variants of 256K x 1 NMOS DRAM and three variants of 8K x 8 CMOS SRAM operating at low temperatures

Complex semiconductors operating at low temperatures comparative life test evaluation of three variants of 256K x 1 NMOS DRAM and three variants of 8K x 8 CMOS SRAM operating at low temperatures

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Christensen, Mogens Bo (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Hørsholm Elektronikcentralen 1987
Schriftenreihe:EC-report 201
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