Complex semiconductors operating at low temperatures comparative life test evaluation of three variants of 256K x 1 NMOS DRAM and three variants of 8K x 8 CMOS SRAM operating at low temperatures

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Christensen, Mogens Bo (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Hørsholm Elektronikcentralen 1987
Schriftenreihe:	EC-report 201
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