Probing-induzierte Defekte bei Halbleitern mit Kontaktpads über aktiven Strukturen

Neubiberg, Univ. der Bundeswehr, Diss., 2009

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Nagler, Oliver (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: 2009
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Beschreibung
Zusammenfassung:Neubiberg, Univ. der Bundeswehr, Diss., 2009
Beschreibung:VIII, 129 S.
Ill., graph. Darst.