Fifth International Symposium on Instrumentation Science and Technology 15 - 18 September 2008, Shenyang, China ; [ISIST 2008]

Bibliographische Detailangaben

Körperschaft:	International Committee on Measurements & Instrumentation (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Tan, Jiubin (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Bellingham, Wash. SPIE 2009
Schriftenreihe:	Proceedings of SPIE 7133
Schlagworte:	Konferenzschrift
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