Proceedings / Seventh International Workshop on Microprocessor Test and Verification, MTV 2006 Austin, Texas, 4 - 5 December 2006

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: IEEE Computer Society Test Technology Technical Council (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Abadir, Magdy S. (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Los Alamitos, Calif. u.a. IEEE Computer Society 2007
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Beschreibung
Beschreibung:Parallel als Online-Ausg. erschienen
Beschreibung:X, 99 S.
graph. Darst.
ISBN:0769528392
0-7695-2839-2
9780769528397
978-0-7695-2839-7