Proceedings / 26th IEEE VLSI Test Symposium : San Diego, California, 27 April - 1 May 2008

Proceedings / 26th IEEE VLSI Test Symposium San Diego, California, 27 April - 1 May 2008

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: IEEE Computer Society Test Technology Technical Council (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Los Alamitos, Calif. u.a. IEEE Computer Society 2008
Schlagworte:
Konferenzschrift > VLSI
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Beschreibung
Beschreibung:Parallel als Online-Ausg. erschienen
Beschreibung:XXX, 413 S.
ISBN:9780769531236
978-0-7695-3123-6