Proceedings / 25th IEEE VLSI Test Symposium : 6 - 10 May 2007, Berkeley, California

Proceedings / 25th IEEE VLSI Test Symposium 6 - 10 May 2007, Berkeley, California

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: IEEE Computer Society Test Technology Technical Council (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Los Alamitos, Calif. u.a. IEEE Computer Society 2007
Schlagworte:
Konferenzschrift > VLSI
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Beschreibung
Beschreibung:Parallel als Online-Ausg. erschienen
Beschreibung:XXX, 484 S.
ISBN:0769528120
0-7695-2812-0
9780769528120
978-0-7695-2812-0