Proceedings / 24th IEEE VLSI Test Symposium : April 30 - May 4, 2006, Berkeley, California

Proceedings / 24th IEEE VLSI Test Symposium April 30 - May 4, 2006, Berkeley, California

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: IEEE Computer Society Test Technology Technical Council (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Los Alamitos, Calif. u.a. IEEE Computer Society 2006
Schlagworte:
Integrated circuits > Very large scale integration > Konferenzschrift > VLSI
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Beschreibung
Beschreibung:Parallel als Online-Ausg. erschienen
Beschreibung:XXIX, 428 S.
ISBN:0769525148
0-7695-2514-8
9780769525143
978-0-7695-2514-3