The value of knowledge spillovers in the U.S. semiconductor industry

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:International journal of industrial organization
1. Verfasser: Deng, Yi (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2008
Schlagworte:
1979-1998 > Wissen > Spillover-Effekt > Patent > Halbleiterindustrie > Schätzung > USA > Aufsatz in Zeitschrift
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Beschreibung
ISSN:0167-7187