Schicht- und Prozessentwicklung für multifunktionale Schichtsysteme zur Entspiegelung und Verspiegelung (MUFOP) Abschlussbericht ; Bewilligungszeitraum: 01.06.2004 - 31.05.2007

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Körperschaft:	Fraunhofer-Institut für Elektronenstrahl- und Plasmatechnik (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Frach, Peter (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Dresden 2007
Schlagworte:	Forschungsbericht > Schichtwerkstoff > Siliciumoxide > Titanoxide > Abscheidung > Optische Eigenschaft > Dickenmessung > Optische Messtechnik > In situ
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Keine Ergebnisse!