A hybrid neural network and selective allowance approach for internal due date assingnment in a wafer fabrication plant

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:The international journal of advanced manufacturing technology
1. Verfasser: Chen, Toly (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Jeang, Angus (VerfasserIn), Wang, Yi-Chi (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: 2008
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Beschreibung
Beschreibung:graph. Darst.
ISSN:0268-3768