Microscopy of semiconducting materials 2007 : proceedings of the 15th conference, 2 - 5 April, 2007, Cambridge, UK

Microscopy of semiconducting materials 2007 proceedings of the 15th conference, 2 - 5 April, 2007, Cambridge, UK

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Conference on Microscopy of Semiconducting Materials (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Cullis, Anthony G. (HerausgeberIn), Midgley, P. A. (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Dordrecht Springer 2008
Schriftenreihe:Springer proceedings in physics 120
Schlagworte:
Electronics > Particles (Nuclear physics) > Weights and measures > Konferenzschrift > Halbleiteroberfläche > Elektronenmikroskopie > Hochauflösendes Verfahren > Epitaxie
Online Zugang:Cover
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Beschreibung
Beschreibung:XIV, 497 S.
Ill., graph. Darst.
235 mm x 155 mm
ISBN:9781402086144
978-1-4020-8614-4