Automatic inspection of the width and gap of etching transistors in TFT-LCD panels using sub-pixel accuracy estimation

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	The international journal of advanced manufacturing technology
Weitere Verfasser:	Lin, Chern-Sheng (BerichterstatterIn), Tsai, Chia-Wen (BerichterstatterIn), Lu, Ying-Cherng (BerichterstatterIn), Tsou, Chingfu (BerichterstatterIn), Chang, Su-Chi (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	2007
Schlagworte:	Aufsatz in Zeitschrift
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Beschreibung
Beschreibung:	Ill., graph. Darst.
ISSN:	0268-3768