Zuverlässigkeit und Entwurf 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 26. bis 28. März 2007 in München ; mit CD-ROM

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: Berlin u.a. VDE-Verl. 2007
Schriftenreihe:GMM-Fachbericht 52, CD-ROM
Schlagworte:
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Beschreibung:Parallel als Buch-Ausg. erschienen
Beschreibung:1 CD-ROM
Ill., graph. Darst
12 cm
ISBN:3800730235
3-8007-3023-5
9783800730230
978-3-8007-3023-0