Optical measurement systems for industrial inspection V 18 - 22 June 2007, Munich, Germany
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Format: | UnknownFormat |
Sprache: | eng |
Veröffentlicht: |
Bellingham, Wash.
SPIE
2007
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Schriftenreihe: | Proceedings of SPIE
6616 |
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ISBN: | 9780819467584 978-0-8194-6758-4 |
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