Eine Möglichkeit zur Bestimmung der Oberflächenladungsdichte und anderer Parameter des MOS-Feldeffekttransistors mit Hilfe der Substratsteuerung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Nachrichtentechnik
1. Verfasser:	Henne, Manfred (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Kirpal, Alfred (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	1971
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