Transmission electron microscopy and diffractometry of materials

Transmission electron microscopy and diffractometry of materials

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Fultz, Brent (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Howe, James M. (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Berlin, Heidelberg u.a. Springer 2008
Ausgabe:3. ed.
Schlagworte:
X-rays > Diffraction > Transmission electron microscopy > Durchstrahlungselektronenmikroskopie > Röntgendiffraktometrie
Online Zugang:Cover
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Beschreibung
Beschreibung:Literaturverz. S. [677] - 689
Beschreibung:XIX, 758 S.
Ill., graph. Darst.
ISBN:3540738851
3-540-73885-1
9783540738855
978-3-540-73885-5
9783540437642
978-3-540-43764-2