Special issue on the 2006 IEEE/ACM Design, Automation and Test in Europe Conference

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Gielen, Georges G. E. (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: New York Inst. of Electrical and Electronics Engineers 2007
Schriftenreihe:IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems 26.2007,3
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Beschreibung
Beschreibung:S. 405 - 614
Ill., graph. Darst.