Special issue on the 2006 IEEE/ACM Design, Automation and Test in Europe Conference
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Format: | UnknownFormat |
Sprache: | eng |
Veröffentlicht: |
New York
Inst. of Electrical and Electronics Engineers
2007
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Schriftenreihe: | IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems
26.2007,3 |
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Beschreibung: | S. 405 - 614 Ill., graph. Darst. |
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