Zuverlässigkeit und Entwurf : 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 26. bis 28. März 2007 in München ; mit CD-ROM

Zuverlässigkeit und Entwurf 1. GMM/GI/ITG-Fachtagung vom 26. bis 28. März 2007 in München ; mit CD-ROM

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: Berlin u.a. VDE-Verl. 2007
Schriftenreihe:GMM-Fachbericht 52
Schlagworte:
Konferenzschrift > Entwurfsautomation > Zuverlässigkeit > Fehlertoleranz > Testen > Fehlererkennung > Mikroelektronik > Neue Technologie > Ausbeute
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Beschreibung:Literaturangaben
Parallel als CD-ROM-Ausg. erschienen
Beschreibung:188 S.
graph. Darst.
297 mm x 210 mm
ISBN:3800730235
3-8007-3023-5
9783800730230
978-3-8007-3023-0