Scanning probe microscopy electrical and electromechanical phenomena at the nanoscale Vol. 2

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Weitere Verfasser:	Kalinin, Sergei V. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	New York, NY Springer 2007
Schlagworte:	Rastersondenmikroskopie
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Beschreibung
Zusammenfassung:	Literaturangaben
Beschreibung:	XX, S. 561 - 980 Ill., graph. Darst.