2006 IEEE International Reliability Physics Symposium proceedings 44th annual; San Jose, California, March 26 - 30, 2006 Vol. 1

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: IEEE Electron Devices Society (BerichterstatterIn), IEEE Reliability Society (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Piscataway, NJ IEEE Service Center 2006
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Beschreibung
Beschreibung:XII, 402, 4 S