2006 IEEE International Reliability Physics Symposium proceedings : 44th annual ; San Jose, California, March 26 - 30, 2006

2006 IEEE International Reliability Physics Symposium proceedings 44th annual ; San Jose, California, March 26 - 30, 2006

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: IEEE Electron Devices Society (BerichterstatterIn), IEEE Reliability Society (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Piscataway, NJ IEEE Service Center 2006
Schlagworte:
Konferenzschrift
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Beschreibung
Beschreibung:IEEE Catalog No.: 06CH37728
Auch bezeichnet als: IRPS 2006
Parallel als Online-Ausg. erschienen
ISBN:0780394984
0-7803-9498-4