Applied scanning probe methods 6 Characterization : with 7 tables

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser:	Bhushan, Bharat (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Berlin u.a. Springer c 2007
Schriftenreihe:	NanoScience and technology
Schlagworte:	Scanning probe microscopy > Industrial applications > Materials > Microscopy
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Beschreibung:	XLV, 338 S. Ill., graph. Darst.
ISBN:	3540373187 3-540-37318-7 9783540373186 978-3-540-37318-6