Aliasing and diagnosis probability in MSIR using a general error model

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Karpovsky, Mark G. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Gupta, Sandeep K. (VerfasserIn), Pradhan, Dhiraj K. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Amherst, Mass. Univ. of Massachusetts, Dep. of Electrical and Computer Engineering 1992
Ausgabe:	Rev.
Schriftenreihe:	TR-CSE 91-42
Schlagworte:
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