Extended defects in semiconductors electronic properties, device effects and structures

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Holt, D. B. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Yacobi, B. G. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Cambridge u.a. Cambridge Univ. Press c 2007
Schlagworte:	Semiconductors > Defects > Halbleiter > Gitterbaufehler
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis Inhaltstext Table of contents only Publisher description Contributor biographical information
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