Extended defects in semiconductors : electronic properties, device effects and structures

Extended defects in semiconductors electronic properties, device effects and structures

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Holt, D. B. (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Yacobi, B. G. (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Cambridge u.a. Cambridge Univ. Press c 2007
Schlagworte:
Semiconductors > Defects > Halbleiter > Gitterbaufehler
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Beschreibung:Includes bibliographical references
Beschreibung:XI, 631 S.
Ill., graph. Darst.
ISBN:0521819342
0-521-81934-2
9780521819343
978-0-521-81934-3