Proceedings / Eleventh IEEE European Test Symposium, ETS 2006 : 21 - 24 May 2006, Southampton, United Kingdom

Proceedings / Eleventh IEEE European Test Symposium, ETS 2006 21 - 24 May 2006, Southampton, United Kingdom

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: IEEE Computer Society Test Technology Technical Council (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Los Alamitos, Calif. u.a. IEEE Computer Society 2006
Schlagworte:
Integrated circuits > Testing > Konferenzschrift > Chip > Testen
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Beschreibung:"IEEE Computer Society Order Number P2566"--T.p. verso
Includes bibliographical references and author index
Parallel als Online-Ausg. erschienen
Beschreibung:XV, 256 S.
graph. Darst.
28 cm
ISBN:0769525660
0-7695-2566-0
9780769525662
978-0-7695-2566-2