Charakterisierung von Gateoxiden in NMOD-Strukturen auf Silizium

Hamburg, Uni., FB Physik, Dipl.arb.1990

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Bade, Thomas (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: 1990
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Beschreibung
Zusammenfassung:Hamburg, Uni., FB Physik, Dipl.arb.1990
Beschreibung:55 S