Special issue on the 22nd IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference [was held in Ottawa, ON, Canda, from May 17 to May 19, 2005]

Bibliographische Detailangaben

Körperschaften:	Instrumentation and Measurement Technology Conference (VerfasserIn), Institute of Electrical and Electronics Engineers (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Goubran, Rafik A. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Piscataway, NJ IEEE 2006
Schriftenreihe:	IEEE transactions on instrumentation and measurement 55.2006,4
Schlagworte:	Konferenzschrift
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