Non-intrusive inspection technologies 17 - 18 April 2006, Kissimmee, Florida, USA

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Vourvopoulos, George (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Bellingham, Wash. SPIE 2006
Schriftenreihe:Proceedings of SPIE 6213
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Beschreibung
Beschreibung:Getr. Zählung [ca. 160 S.]
ISBN:0819462691
0-8194-6269-1