Proceedings / 34th Applied Imagery and Pattern Recognition Workshop : October 19 - 21, 2005, Washington, DC

Proceedings / 34th Applied Imagery and Pattern Recognition Workshop October 19 - 21, 2005, Washington, DC

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaften: Applied Imagery and Pattern Recognition Workshop (VerfasserIn), IEEE Computer Society Technical Committee on Machine Intelligence and Pattern Analysis (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Bonneau, Robert J. (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Los Alamitos, Calif. u.a. IEEE Computer Society 2006
Schlagworte:
Konferenzschrift > Mustererkennung
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Beschreibung
Beschreibung:Kongr.-Thema: Multi-modal imaging
Beschreibung:VIII, 237 S
ISBN:0769524796
0-7695-2479-6