Spektroskopische Charakterisierung von Germanium-Quantenpunkten in Silizium

Zugl.: München, Techn. Univ., Diss, 2005

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Bougeard, Dominique (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: Garching Walter-Schottky-Inst. 2006
Ausgabe:1. Aufl.
Schriftenreihe:Selected topics of semiconductor physics and technology 74
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Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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