Spektroskopische Charakterisierung von Germanium-Quantenpunkten in Silizium

Zugl.: München, Techn. Univ., Diss, 2005

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Bougeard, Dominique (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Garching Walter-Schottky-Inst. 2006
Ausgabe:	1. Aufl.
Schriftenreihe:	Selected topics of semiconductor physics and technology 74
Schlagworte:	Hochschulschrift > Silicium > Germanium > Mehrschichtsystem > Quantenpunkt
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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