Aufbau moderner Testsysteme = Test systems; design principles and structure
Gespeichert in:
Körperschaft: | |
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Format: | UnknownFormat |
Sprache: | ger |
Veröffentlicht: |
Wunstorf u.a.
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1983
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Schriftenreihe: | Konferenzunterlagen / Automatic Testing and Tests and Measurement Exhibition 83, Rhein-Main-Halle Wiesbaden, 8. - 10. März 1983 : technisches Messen, Prüfen + Testen = Conference proceedings / Automatic Testing and Tests and Measurement Exhibition 83
Session 1 |
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Beschreibung: | 80 S. Ill., graph. Darst. |
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ISBN: | 0907634109 0-907634-10-9 |