Aufbau moderner Testsysteme = Test systems; design principles and structure

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Automatic Testing & Test and Measurement Conference (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: Wunstorf u.a. Network 1983
Schriftenreihe:Konferenzunterlagen / Automatic Testing and Tests and Measurement Exhibition 83, Rhein-Main-Halle Wiesbaden, 8. - 10. März 1983 : technisches Messen, Prüfen + Testen = Conference proceedings / Automatic Testing and Tests and Measurement Exhibition 83 Session 1
Schlagworte:
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Beschreibung:80 S.
Ill., graph. Darst.
ISBN:0907634109
0-907634-10-9