Stress-induced phenomena in metallization : eighth International Workshop on Stress-Induced Phenomena in Metallization, Dresden, Germany, 12 - 14 September 2005

Stress-induced phenomena in metallization eighth International Workshop on Stress-Induced Phenomena in Metallization, Dresden, Germany, 12 - 14 September 2005

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Workshop on Stress Induced Phenomena in Metallization (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Zschech, Ehrenfried (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Melville, NY American Institute of Physics 2006
Schriftenreihe:AIP conference proceedings 817
Schlagworte:
Integrated circuits > Defects > Metal-metal bonds > Semiconductors > Konferenzschrift > Beanspruchung > Metallisieren > Elektromigration > Wärmespannung
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
Verlagsangaben
Abstracts
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
Beschreibung
Beschreibung:XI, 372 S
ISBN:0735403104
0-7354-0310-4